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技術專題

影響涂層測厚儀測量值精度的十大因素及應當遵守的規(guī)定

發(fā)布日期:2014-07-08 點擊:1543

1.使用儀器時應當遵守的規(guī)定

  a 基體金屬特性

  對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

  對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。

  b 基體金屬厚度

  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。

  c 邊緣效應

  不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉角等處進行測量。

  d 曲率

  不應在試件的彎曲表面上測量。

  e 讀數(shù)次數(shù)

  通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求

在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,表面粗造時更應如此。

  f 表面清潔度

測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質磁性法測厚受基體金

屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應

使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
 
2、影響因素的有關說明

  a 基體金屬磁性質

    b 基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同

性質的標準片對儀器進行校準。

  c 基體金屬厚度 

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附

表1。
  d 邊緣效應

  本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉角處進行測量是不可靠的。

  e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的

。
  f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

  g 表面粗糙度

  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差

,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度

相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器

的零點。

  g 磁場

  周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

  h 附著物質

  本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此,必須清除附著物質,以保證儀器測頭和被測

試件表面直接接觸。

  i 測頭壓力

  測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

  j 測頭的取向

  測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。

 

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