光通量的測(cè)量方法

1. 積分球替代法
    兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都推薦了4π和2π兩種積分球的測(cè)量幾何，測(cè)量示意圖如1和2所示。如圖1(b)和圖2(c)所示，2π測(cè)量幾何的取光口位于積分球頂部雖然能夠使多數(shù)LED產(chǎn)品按照其標(biāo)準(zhǔn)的燃點(diǎn)姿態(tài)工作，但測(cè)試安裝比較困難，且積分球內(nèi)容易積累灰塵，影響積分球涂層反射率的穩(wěn)定性。考慮到上述問題，圖1(b)所示的側(cè)邊取樣口方案更具有可行性。
為了使積分球替代法達(dá)到比較好的測(cè)量精度，用于定標(biāo)或校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈是關(guān)鍵。GB/T 24824-2009和LM-79-2008都提出了盡量使用同類型的標(biāo)準(zhǔn)LED產(chǎn)品作為標(biāo)準(zhǔn)燈，以減小誤差，標(biāo)準(zhǔn)LED產(chǎn)品的量值可通過更精確的方法測(cè)量，如國(guó)家計(jì)量院、高精度分布光度計(jì)等。
LM-79規(guī)定采用90%~98%的高反射率涂層；而GB/T24824-2009則允許80%左右或者90%~98%兩種反射率涂層，并且建議當(dāng)用分光法(積分球光譜輻射計(jì))測(cè)量時(shí)，使用高涂層反射率(90%~98%)；利用積分法(積分球光度計(jì))測(cè)量時(shí)，使用穩(wěn)定的低涂層反射率(80%左右)。CIE 84-1989《光通量測(cè)量方法》文件推薦使用80%反射率涂層，眾多歐洲權(quán)威實(shí)驗(yàn)室也使用80%反射率涂層。GB/T24824-2009在積分球涂層方面有更大包容性，允許按整體檢測(cè)設(shè)備配備選擇合適涂層。
2. 分布光度計(jì)系統(tǒng)
   GB/T 24824-2009和LM-79-2008中關(guān)于分布光度計(jì)系統(tǒng)都提供了兩種測(cè)量方法：照度積分法和光強(qiáng)積分法，測(cè)量。
由于照度積分法的測(cè)量對(duì)距離和被測(cè)光源的位置不敏感，且測(cè)量光束可以不經(jīng)過反光鏡等中間過程，從而能夠?qū)崿F(xiàn)很高的測(cè)量精度，是很多國(guó)家建立光通量國(guó)家基準(zhǔn)的測(cè)量方法。GB/T 24824-2009中同樣將照度積分法規(guī)定為基準(zhǔn)測(cè)量方法，LM-79-2008雖然沒有明確將照度積分法定位基準(zhǔn)測(cè)量方法，但其所描述精確測(cè)量光通量的條件即為照度積分法的條件。值得一提的是，LM-79標(biāo)準(zhǔn)的主要起草人Yoshi Ohno博士在美國(guó)宣貫LM-79標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，還將由我國(guó)自主研發(fā)的GO-R5000全空間快速分布光度計(jì)列為實(shí)現(xiàn)LM-79-2008“分布光度計(jì)法”測(cè)量的設(shè)備之一。